探測器分辨率140ev
環境溫度16-36攝氏度
測試精度RSD0.05%
重復性0.05%
儀器尺寸800x600x100
特精密的光學系統
采用中階梯光柵-棱鏡交叉色散方式,的光學優化設計使得光通量化的同時保證了優異的光譜分辨率;無任何光學元件,保證了良好的長期穩定性;雜散光設計配合特的光學設計,大大降低了背景光的干擾,進一步提高檢出限;的氮氣分布式吹掃光室配合的光學元件保證了深紫外區特別是P、S、As等元素的測量。
儀器特點:采用熒光強度比率相對比較分析方法,溫度大氣壓自動修正,碳氫比(C/H)亦可修正。
一、主要技術參數:
1、分析方法:光電比色分析法
2、量程范圍:0-1.999A吸光度值,0-濃度值
(以黑色金屬中硅、錳、磷、鎳、鉻、鉬、鈦、稀土、鎂為例)
Mn:0.010~18.00% P:0.0005~2.000% Si:0.010~6.000% ΣRE:0.010~0.500%
Mg:0.010~0.200% Cr:0.01~28.000% Ni:0.010~30.000% Mo:0.010~7.000%
Ti:0.010~5.000%
3、測量精度:符合GB/T223標準
4、可測元素:硅、錳、磷、銅、鎳、鉻、鉬、鈦、稀土、鎂、釩、鋁、鎢、鈮等。
二、主要特點:
1、程序采用目前流行的VC6.0語言編制而成,各種功能的操作及顯示均采用在主屏幕上彈出所需功能窗口的做法,使操作者感到層次清楚、一目了然。
2、儀器測試過程自動校準,保證測量精度,內置多條曲線,可滿足多種元素的分析需要。儀器的內存大,可測元素多。
3、儀器建立了的數據庫,用于分析結果數據和曲線的打印、儲存及查詢,其數據及曲線的修改和增刪均十分方便。
4、兼容了3A、4A、3AD分析儀的所有功能。
EDX3200S X熒光硫元素分析儀技術參數:
? 電源:AC220V±20V,50Hz/60hz,額定功率:50W;
? 尺寸和重量:長460mm×寬260mm×高260mm;11kg;
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