天瑞儀器生產 x射線熒光光譜儀報告 X光譜分析儀

多功能分析儀 Ux-310
Ux-310 多功能分析儀應對RoHS指令，無鹵指令，WEEE指令，土壤、礦石成分分析，銅合金、不銹鋼牌號識別的機型。三重射線防護系統；人性化操作界面；即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價鉻的Cr和無鹵指令中的Cl和Br元素，又能夠對土壤、礦石成分分析，銅合金、不銹鋼牌號識別。可完全滿足客戶環保管控要求和材料識別。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。
應用領域：
用于RoHS指令管控的產品：大型家電、小型家電、信息技術及通訊設備、電動工具、玩具等設備
用于無鹵指令管控的產品：用含有Cl、Br等元素的阻燃劑作為原料的產品
用于銅合金、鐵合金、鋁合金、鈦合金、高溫合金及各種混雜合金等合金材料內元素成分分析和含量測試
技術指標:
1、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm
2、樣品腔尺寸：300*360*100mm；
3、測試元素范圍：S-U中的元素
4、檢測范圍：1ppm-
5、RoHS檢測限：Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm
6、測試樣品類型：固體、粉末和液體
7、測量時間 ：120-400s ( 系統自動調整 )
8、佳分辨率：見下面探測系統詳細參數說明
9、準直器：Φ2mm、Φ5mm
10、濾光片：8種復合濾光片自動切換
11、CCD觀察：130萬像素高清CCD
12、樣品微動范圍：XY8mm
13、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz
14、額定功率：350W
15、重量：約45Kg
16、工作環境溫度：溫度15-30℃
17、工作環境相對濕度：≤85%（不結露）

關于X射線的發展歷史，早可以追溯到1895年，德國物理學家威廉·康拉德·倫琴于這一年11月發現并識別出了X射線，因此，X射線熒光光譜儀在許多國家也被稱之為倫琴射線。隨后在1909年，英國物理學家查爾斯·格洛弗·巴克拉發現了從樣本中出來的X射線與樣品原子量之間的聯系；四年之后，也即在1913年，同樣來自英國的物理學家亨利·莫斯萊發現了一系列元素的標識譜線（特征譜線）與該元素的原子序數存在一定的關系。這些發現都為人們后期根據原子序數而不是根據原子量大小提煉元素周期表奠定了基礎，同樣也為人們建立起個X射線熒光光譜儀（XRF）打下了堅實的理論基礎。然而，直到1948年，Herbert Friedman 和Laverne Stanfield Birks才建立起世界上臺X射線熒光光譜儀，這為后續光譜儀的商業化使用開辟了道路。
通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫做X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來照射的X射線稱為原級X射線，所以X射線熒光仍然屬于X射線范疇。一臺典型的X射線熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管主要負責產生入射X射線(一次X射線)，隨后該射線對被測樣品進行激發，受激發的樣品中的每一種元素在被激發后會放射出二次X射線，但樣品中元素種類的不同以及它們吸收外部X射線能量的多少都會影響到它們**出的二次X射線的能量大小（類似于可見光的顏色），不同類型的元素都會發出不同的能量或者顏色，因此不同的元素所放射出的二次X射線都具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量信息，隨后儀器軟件將該探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量等信息。值得一提的是，X射線熒光分析技術是一種非侵入式、能夠對不同材料中的化學組成實現快速分析的無損檢測技術。這些特性使得該分析技術在許多方面都加實用且具優勢。其主要應用范圍包括：金屬合金材料的可靠性鑒別（PMI）、危險品檢測、材料驗證以及**科學等方面。

X射線熒光光譜法是一種現代儀器分析方法，通過X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品；受激發的樣品中的每一種元素會發出特征X射線（二次X射線）——這種特征X射線具有特定的能量和波長特性（莫塞萊定律），這些放射出來的二次X射線的能量及數量被探測系統測量，通過配套軟件將這些射線信號轉化為樣品中各種組分元素的具體含量。

該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率：采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
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