X光譜分析儀 x射線熒光光譜儀測試

X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測試、EN71，測試結果度高。X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學檢測媲美，還大大節省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業倡導綠色生產過程中**的檢測工具。

EDX系列應用范圍
臺式系列和便攜式系列X熒光光譜分析儀，已經在礦產行業中得到了實際廣泛應用并得到客戶的認可。礦產行業應用客戶及應用范圍如下：
測試陶瓷、古陶瓷、青銅器等，作年代和真偽堅定
測試各種礦樣和實驗研究
測試鐵氧體材料及磁性材料配比成分
1、X射線熒光光譜法是一種現代儀器分析方法，通過X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品；受激發的樣品中的每一種元素會發出特征X射線（二次X射線）——這種特征X射線具有特定的能量和波長特性（莫塞萊定律），這些放射出來的二次X射線的能量及數量被探測系統測量，通過配套軟件將這些射線信號轉化為樣品中各種組分元素的具體含量。
1.1 設備及試劑
設備：X射線熒光光譜儀一臺；電子天平一臺（精度0.01g）；自動壓片機一臺（壓力不小于40T）；鼓風干燥箱一臺；振動磨一臺；非金屬樣品篩（200目）
試劑： 粉末（分析純）；土壤標準物質；土壤樣品
1.2 樣品的采集、保存和前處理
土壤樣品的采集和保持按照HJ/T166執行，樣品的風干或烘干按照HJ/T166相關規定進行操作，樣品研磨后過200目篩，于105℃烘干備用。
用電子天平稱量5.00g過篩（200目）的土壤標準物質或樣品和12.00g粉末（鑲邊材質），稱量誤差±0.05g。然后放入壓片機中壓片成型，壓力30T（壓力范圍20～30T）,保壓時間30s。
1.3 工作曲線的建立和樣品分析
設定適當的測量條件，使用EDX3200S PLUS掃描標準物質（簡稱標樣）GSS-1～GSS-15，建立土壤標樣中關注元素含量與強度的線性工作曲線。然后，對未知樣品進行測量。
2. 測量及數據分析
2.1 土壤中關注的金屬元素及氧化物檢出限測量
配有三組濾光片，根據土壤中關注元素的特性，設置測試條件。用土壤標樣GSS-1-GSS-15標定儀器，建立環境土壤工作曲線。在環境土壤工作曲線下，使用高純SiO2 做空白基體，連續測試11次，根據檢出限公式： 3倍的空白基體的標準偏差除以儀器的靈敏度
終獲得測量土壤樣品的方法檢出限
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（S）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-300秒
探測器能量分辨率為：可達125eV
管壓：5KV-70KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm
性能特點
**薄窗X光管，指標達到**水平
新的數字多道技術，讓測試快，計數率達到100000cps，精度高。
FastSDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同元素自動切換濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
儀器具備安全許可證，且對設備進行三重X射線屏蔽設計，保證了環境下無泄漏，讓測試人員安全放心的使用
硬件聯動裝置，權限安全鎖，保證軟件失效的情況下還能對設備進行控制，保證設備在使用中的安全無放射
標準配置
**薄窗X光管
Fast SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
自動切換濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序

具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合得獎號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態為固體、液體、粉末等。
x熒光光譜儀xrf標準配置
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
合金測試**薄窗X光管
**薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
信噪比增強器SNE
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
三重安全保護模式
整體鋼架結構，力度可靠的保證

關于X射線的發展歷史，早可以追溯到1895年，德國物理學家威廉·康拉德·倫琴于這一年11月發現并識別出了X射線，因此，X射線熒光光譜儀在許多國家也被稱之為倫琴射線。隨后在1909年，英國物理學家查爾斯·格洛弗·巴克拉發現了從樣本中出來的X射線與樣品原子量之間的聯系；四年之后，也即在1913年，同樣來自英國的物理學家亨利·莫斯萊發現了一系列元素的標識譜線（特征譜線）與該元素的原子序數存在一定的關系。這些發現都為人們后期根據原子序數而不是根據原子量大小提煉元素周期表奠定了基礎，同樣也為人們建立起個X射線熒光光譜儀（XRF）打下了堅實的理論基礎。然而，直到1948年，Herbert Friedman 和Laverne Stanfield Birks才建立起世界上臺X射線熒光光譜儀，這為后續光譜儀的商業化使用開辟了道路。
通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫做X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來照射的X射線稱為原級X射線，所以X射線熒光仍然屬于X射線范疇。一臺典型的X射線熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管主要負責產生入射X射線(一次X射線)，隨后該射線對被測樣品進行激發，受激發的樣品中的每一種元素在被激發后會放射出二次X射線，但樣品中元素種類的不同以及它們吸收外部X射線能量的多少都會影響到它們**出的二次X射線的能量大小（類似于可見光的顏色），不同類型的元素都會發出不同的能量或者顏色，因此不同的元素所放射出的二次X射線都具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量信息，隨后儀器軟件將該探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量等信息。值得一提的是，X射線熒光分析技術是一種非侵入式、能夠對不同材料中的化學組成實現快速分析的無損檢測技術。這些特性使得該分析技術在許多方面都加實用且具優勢。其主要應用范圍包括：金屬合金材料的可靠性鑒別（PMI）、危險品檢測、材料驗證以及**科學等方面。
http://www.dreamfactory.cc