x射線熒光能譜儀 能量色散x熒光光譜儀 廠家天瑞儀器

作為一種比較成熟的成分分析手段，X熒光光譜儀分析在冶金、地質、環境、化工、材料等領域中應用非常廣泛。X熒光光譜儀分析的對象主要是塊狀固體、粉末、液體三種，其中，固體粉末是分析得多的一種。因為很多試樣如水泥、煤、灰塵等本身就是粉末，對于形狀不規則的塊狀固體，如各種礦石，由于直接分析技術目前還不成熟，往往也粉碎成粉末。液體試樣可放入液體樣品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有時將液體轉變為固體，一些預分離、富集的結果也常是粉末，因此，粉末試樣的制樣技術是X熒光光譜儀分析中的重要一部分。

1、壓片法壓片法是將經過粉碎或研磨的樣品加壓成形的制樣方法。壓片法的制樣流程粉末樣品加壓成型
（1）優點：
①制樣簡便，速度快，適合大生產和快速分析
②制樣設備簡單，主要是磨粉機，壓片機和模具等。
③可用于標準加入法和高、低倍稀釋以減少基體效應。
④比起松散樣品，將粉末樣品壓片能減小表面效應和提高分析精度。
（2）不足：不能有效消除礦物效應和完全克服粒度效應。一般用于控制生產，而不用于樣品成分的定值。
（3）制樣過程中應注意的事項：
①樣品要烘干。
②樣品經過粉碎要達到一定的粒度并均勻。
③標準樣品和分析樣品制樣時的壓力和保壓時間要一致。
④卸壓速度不要太快，要勻速下降。
⑤保持粉碎的容器和壓片的模具清潔，防止樣品間的相互沾污。
⑥裝料密度要一致。
可以采用以下方法來減少粒度效應：
①研細到不存在粒度效應的程度；
②對所有試樣和標樣采用標準化的研磨方法，使它們基本上具有相同的粒度或粒度分布；
③干法稀釋。稀釋劑粉末與含有分析元素的顆粒對初級和分析線束的質量吸收系數好要相似；
④在高壓力下壓制成塊；
⑤數學方法校正；
（4）助研磨劑助研磨劑的作用主要是提高研磨效率及克服細磨時的附聚現象，提高均勻性和防止樣品在粉碎時粘附在粉碎容器上。
常用的助研磨劑有:
②
 體的如、乙二醇、三胺和正己烷等，具有可烘干易揮發的優點；
②固體的如各種硬脂酸等。另外，助研磨劑還能減少和延遲在粉碎和研磨過程中樣品顆粒的重新團聚現象。
（5）粘結劑粘結劑的主要作用是使一些內聚力比較差的粉末樣品在制樣中增加粘結性能。加入粘結劑有以下幾個優點：
①內聚力很低的粉末也可以制成結實的壓塊；
②對粒度和密度不均勻的粉末加入粘結劑，裝樣時和壓片時可得到較好均勻性；
③可以得到較高的堆積密度和較光滑的表面；
④由于稀釋，減少了吸收-增強效應。但是加入粘結劑也有一些缺點，由于加入的粘結劑大多是輕基體，低吸收稀釋劑，能減少基體效應。但會使散射背景有所增加，另外分析元素的測量強度會有所下降，對痕量元素不利，使輕元素的靈敏度下降。同時，制樣時間有所增加。常用固體的粘結劑有甲基纖維素、微晶纖維素、、低壓聚乙烯、石蠟、淀粉、干紙漿粉等；常用的液體粘結劑有，其優點是液體可以揮發，樣品中的殘留量可忽略。使用粘結劑要注意其純度，不能含有明顯的干擾元素；且性質穩定不易吸潮、風干，經X 射線照射不易破碎；必須定量加入，加入量一般為總重量的2%~10%。
（6）添加劑為了校正吸收-增強效應可添加內標。內標的粒度必須與試樣粒度相同，或者把它們摻到一起再進行研磨。好是以溶液形式加入內標，即可把內標溶液與試樣粉末均勻混合起來。為減少吸收-增強效應，可添加低吸收稀釋劑，如碳酸鋰，，碳，淀粉等，對于輕基體分析元素的粉末樣品，為使校準曲線加接近直線，可添加高吸收緩沖劑，如氧化鑭或鎢酸。為便于研磨，可添狀惰性磨料，如氧化鋁，碳化硅。用研缽研磨粉末時，經常使用這種方法。如果待混合的種粉末的粒度都很小，或它們的粒度、形狀、密度都基本相同，則可直接以干粉形式進行混合；如果粉末較粗，或粒度和形狀不同，則必須在混合前分別加以研磨，或者混合后一起加以研磨。如果密度差別很大，則可以把一定體積的重成分標準溶液加入經過稱重的輕成分粉末。
（7）襯底為避免粘結劑的加入降低強度，或只有少量的粉末樣品時，可采用鑲邊襯底壓片。
（8）研磨工具可用瑪瑙、碳化硅、碳化硼研缽進行手工研磨。可以干磨，也可以加入或，研磨至干，如此反復幾次。好還是用磨樣機進行研磨。壓片時，粒度越小，分析線強度就越高；粒度一定時，壓力越高，分析線強度就越高。使用粘結劑或稀釋劑，會使強度隨粒度增加而減小的效應變得明顯，而使強度隨壓力而的效應變弱。

X射線熒光光譜儀（XRF）具有譜線簡單、不破壞樣品、操作簡便、測定迅速等優點，廣泛應用于地質、冶金、采礦、有色、海洋、生化、環境、石化、商檢、電子、、考古、難融化物和建材工業等領域。但因為XRF操作簡便的優點，使得現在一些“不求甚解”的使用者，只會使用，缺乏對于XRF的基礎知識。你得懂XRF的原理么？你知道XRF的分類么？你知道各類XRF有什么優勢么？
下面為大家一一解答：
XRF的原理是什么？
X射線熒光（XRF），顧名思義，利用了X射線和熒光技術，當原級X射線照射在待測樣品上，產生的次級X射線叫X射線熒光，通過分析熒光的波長和能量對物質進行成分和化學形態的分析。XRF理論上可以測定元素周期表中所有的元素，但是在實際應用中，一般有效的元素測量范圍為從鈹（Be）到鈾（U）的90余種元素。
XRF的分類有哪些？
XRF根據原理不同主要分為兩類：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF），其根本區別在于檢測方法的不同：
波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF），簡稱為波散型XRF，其原理是將X射線熒光通過晶體或人工擬晶體將不同能量的譜線分開，然后進行檢測。通過譜線的波長進行定性分析，通過能量的強度進行定量分析。
波散型XRF
能量色散型X射線熒光光譜儀（ED-XRF），簡稱能散型XRF，沒有復雜的分光系統，X射線熒光直接進入探測器，再經放大器放大成形后進入多道脈沖幅度分析器，將不同能量的脈沖分開并處理，就可以對能量范圍很寬的X射線譜同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。

型號：3600B
儀器介紹
EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性； 利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
應用領域
鋼鐵和有色金屬檢測
水泥檢測
礦料分析
（4）型號：HD1000
儀器介紹
XOS公司的HD1000儀器為rohs和涂層表面的有害物質、重屬金進行測試而設計。里面配置有x熒光曲面晶體進行單色和聚焦處理，有效的降低了測試背景，使檢出限有顯著的提高。采用了高清 CCD攝像頭進行跟蹤測試。
可以對樣品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素進行檢測。提供人性化的操作界面，操作方便易用。儀器軟件有對樣品的測試數據、樣品高清圖片自動保存和編輯的功能。
性能特點
單鍵操作，簡單方便
采用業界的聚光裝置，x熒光曲面晶體進行聚光處理
通過使用晶體產生單色光，進行測試，明顯減少檢測背景干擾。
通過聚光處理，有效降低光管功率的80%，大大延長了光管使用壽命
HD分析儀可分別測定涂層和基體中的鉛含量（和其它9種有害元素）――一次完全測定。
測試面積1mm，產品上小的特征也能充分測定。
測試精度和準確性不受表面光滑度和產品形狀的影響――光滑或不規則，平面或曲面。
HD 1000分析儀能可靠地測定CPSIA規定中涂層或基體的新標準以下。
分析儀可測試成品、部件或原材料中的鉛含量――樣品可以是粉末或液體。
HD 1000采用的是無損分析技術，對測試樣品不造成任何破壞。
**的簡易操作，儀器可以放在工廠地板上，成品庫中或試驗室里實用。
所有含鉛材料都可以有效測定：塑料、木材、金屬、紡織品、紙張、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析儀的每一個細節和特點均是為達到玩具和兒童用品業的要求而設計和優化的。
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