x射線熒光光譜儀作用 廠家天瑞儀器 XRF

關于X射線的發展歷史，早可以追溯到1895年，德國物理學家威廉·康拉德·倫琴于這一年11月發現并識別出了X射線，因此，X射線熒光光譜儀在許多國家也被稱之為倫琴射線。隨后在1909年，英國物理學家查爾斯·格洛弗·巴克拉發現了從樣本中出來的X射線與樣品原子量之間的聯系；四年之后，也即在1913年，同樣來自英國的物理學家亨利·莫斯萊發現了一系列元素的標識譜線（特征譜線）與該元素的原子序數存在一定的關系。這些發現都為人們后期根據原子序數而不是根據原子量大小提煉元素周期表奠定了基礎，同樣也為人們建立起個X射線熒光光譜儀（XRF）打下了堅實的理論基礎。然而，直到1948年，Herbert Friedman 和Laverne Stanfield Birks才建立起世界上臺X射線熒光光譜儀，這為后續光譜儀的商業化使用開辟了道路。
通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫做X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來照射的X射線稱為原級X射線，所以X射線熒光仍然屬于X射線范疇。一臺典型的X射線熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管主要負責產生入射X射線(一次X射線)，隨后該射線對被測樣品進行激發，受激發的樣品中的每一種元素在被激發后會放射出二次X射線，但樣品中元素種類的不同以及它們吸收外部X射線能量的多少都會影響到它們**出的二次X射線的能量大小（類似于可見光的顏色），不同類型的元素都會發出不同的能量或者顏色，因此不同的元素所放射出的二次X射線都具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量信息，隨后儀器軟件將該探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量等信息。值得一提的是，X射線熒光分析技術是一種非侵入式、能夠對不同材料中的化學組成實現快速分析的無損檢測技術。這些特性使得該分析技術在許多方面都加實用且具優勢。其主要應用范圍包括：金屬合金材料的可靠性鑒別（PMI）、危險品檢測、材料驗證以及**科學等方面。

**小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對**小樣品可準確聚焦檢測
可區分99.9%及黃金純度
可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

X射線熒光光譜儀（XRF）具有譜線簡單、不破壞樣品、操作簡便、測定迅速等優點，廣泛應用于地質、冶金、采礦、有色、海洋、生化、環境、石化、商檢、電子、、考古、難融化物和建材工業等領域。但因為XRF操作簡便的優點，使得現在一些“不求甚解”的使用者，只會使用，缺乏對于XRF的基礎知識。你得懂XRF的原理么？你知道XRF的分類么？你知道各類XRF有什么優勢么？
下面為大家一一解答：
XRF的原理是什么？
X射線熒光（XRF），顧名思義，利用了X射線和熒光技術，當原級X射線照射在待測樣品上，產生的次級X射線叫X射線熒光，通過分析熒光的波長和能量對物質進行成分和化學形態的分析。XRF理論上可以測定元素周期表中所有的元素，但是在實際應用中，一般有效的元素測量范圍為從鈹（Be）到鈾（U）的90余種元素。
XRF的分類有哪些？
XRF根據原理不同主要分為兩類：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF），其根本區別在于檢測方法的不同：
波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF），簡稱為波散型XRF，其原理是將X射線熒光通過晶體或人工擬晶體將不同能量的譜線分開，然后進行檢測。通過譜線的波長進行定性分析，通過能量的強度進行定量分析。
波散型XRF
能量色散型X射線熒光光譜儀（ED-XRF），簡稱能散型XRF，沒有復雜的分光系統，X射線熒光直接進入探測器，再經放大器放大成形后進入多道脈沖幅度分析器，將不同能量的脈沖分開并處理，就可以對能量范圍很寬的X射線譜同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。

測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9%
穩定性：0.02%
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片自由切換
樣品觀察：高清工業攝像頭
環境濕度：≤70%
環境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
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