能量分辨率144±5eV
測量對象元素含量
測量范圍N-U
測量精度1ppm
適用范圍電子電器、金屬、塑料、涂料
探測器SDD
含量范圍ppm--
電源電壓220V
分析時間200秒左右
檢測限1ppm(基材不同有所變化)
**小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能,可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米,針對**小樣品可準確聚焦檢測
可區分99.9%及黃金純度
可測量貴金屬中有害元素,鉛、鎘等
粉末壓片制樣法主要分三步:干燥焙燒、混合研磨、壓片。有粉末直接壓片、粉末稀釋壓片、用粘結劑襯底和鑲邊等方法。
①結劑、助磨劑及其他添加劑
當樣品本身的粘結力較小時,選擇一種合適的粘結劑很重要。粘結劑有固體和液體兩種,常用的固體粘結劑有、甲基纖維素、聚乙烯、石蠟、淀粉、濾紙或色譜紙漿、碳酸鋰等。用石蠟和苯乙烯的混合物作粘結劑。粘結劑的加入量為樣品的10%-50%,過多會影響輕元素的檢出限。粘結劑的加入會使分析線強度下降,如果粘結劑顆粒度較大,還會引入顆粒度效應。從吸水性、樣品的堅固性、抽真空時間、對儀器污染、制樣成功率、成本等方面對幾種常用的粘結劑作了比較, 得出低壓聚乙烯是一種較理想的粘結劑。
液體粘結劑有、聚乙烯醇(PVA)等。使用液體粘結劑易制成均勻、重復性好的壓片,制得的樣片加堅固耐用。
在制備試樣和標樣過程中,除粘結劑外,還可加入助磨劑、內標元素、稀釋劑等,液體粘結劑或助磨劑的大優點是不用稱量,但壓片后要烘干,加入的量也不可過多,一般100g樣品中加入幾毫升到十幾毫升。固體粘結劑和助磨劑等需要準確稱量,并且要混合均勻,因此,制樣較麻煩,如果加上清洗粉碎容器的時間,有時甚至比熔融法長。在大批量的分析中,多采用直接壓片或襯底壓片法。
②粉碎技術
可用瑪瑙或碳化鎢研缽人工研磨,現在較多使用機械振動磨或球磨機,效率很高。一般樣品均可粉碎至74μm以下(通過200目篩子),好的可以達到20μm左右。隨著粉碎時間的延長,顆粒度減小到一定程度不再變細,如果繼續粉碎,反而會發生“團聚”現象。要提高粉碎效率,可以加入固體或液體助磨劑。粉碎時間越長,粉碎容器帶來的污染越嚴重,因此,選擇一種合適的粉碎容器很重要。要比較這種污染,可以分析一種很硬的物質(如石英)經粉碎后的污染情況,或對比兩種不同粉碎方法的分析結果。在分析痕量元素時,為了提高分析的靈敏度和準確度,這是非常必要的。還有一種污染,是不同粉碎試樣間的相互污染。每次粉碎后都要保證容器清洗干凈,當樣品量較多時,粉碎前可用少量樣品預“清洗”兩次。
③壓片
壓樣設備常見的有手動或電動液壓機,粉末樣品裝入鋁杯或鋁環(或塑料環)中,在相應的模具中加壓成型。在真空光譜儀中,粉末壓片可能會含有空氣或其它氣體而發生濺射,既破壞了試樣表面,又污染了樣品室。可先在真空中壓制成塊,或在氦氣光路中測量。為了減少壓入片內空氣的量,在裝樣時可輕拍樣品,加壓時要逐步壓力,同時還要保壓一定的時間。X熒光光譜儀分析是一種表面分析,尤其對于輕元素,分析時有效層厚度只有幾個至十幾個μm,表面的污染是致命的問題,同時還要求表面平滑。所以每次壓片后都要把模具的表面洗凈,隔一段時間還要對塞柱表面(對應于樣片被測面)適當拋光。試樣在保存過程中也要防止表面污染、表面破損、吸潮、氧化、吸附空氣等。好是壓片后盡快測量,對于標樣、管理樣等需長期保存的試樣,以粉末狀態密封保存較好,需要時臨時壓片。
④標準樣品的制備
X熒光光譜儀分析是一種相對分析,標準樣品的制備直接影響分析的準確度。粉末壓片法的標樣來源主要有三個:用其他方法分析試樣;在成分已知的標樣中加入某些成分;人工合成。
EDX合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試開發的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合號分析、有害元素分析,土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等,形態為固體、液體、粉末等。
型號:3600B
儀器介紹
EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為:利用低能X光激發待測元素,對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率; 采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比; 采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性; 利用解譜技術使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度;采用相似自動分類技術使分類準確,有效地克服基效應對測量帶來的影響;采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—
同時分析元素:24種元素同時分析
測量鍍層:鍍層厚度測量薄至0.005微米,可分析5層以上的鍍層
分析精度:0.05%
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
能量分辨率為:(150±5)eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
應用領域
鋼鐵和有色金屬檢測
水泥檢測
礦料分析
(4)型號:HD1000
儀器介紹
XOS公司的HD1000儀器為rohs和涂層表面的有害物質、重屬金進行測試而設計。里面配置有x熒光曲面晶體進行單色和聚焦處理,有效的降低了測試背景,使檢出限有顯著的提高。采用了高清 CCD攝像頭進行跟蹤測試。
可以對樣品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素進行檢測。提供人性化的操作界面,操作方便易用。儀器軟件有對樣品的測試數據、樣品高清圖片自動保存和編輯的功能。
性能特點
單鍵操作,簡單方便
采用業界的聚光裝置,x熒光曲面晶體進行聚光處理
通過使用晶體產生單色光,進行測試,明顯減少檢測背景干擾。
通過聚光處理,有效降低光管功率的80%,大大延長了光管使用壽命
HD分析儀可分別測定涂層和基體中的鉛含量(和其它9種有害元素)――一次完全測定。
測試面積1mm,產品上小的特征也能充分測定。
測試精度和準確性不受表面光滑度和產品形狀的影響――光滑或不規則,平面或曲面。
HD 1000分析儀能可靠地測定CPSIA規定中涂層或基體的新標準以下。
分析儀可測試成品、部件或原材料中的鉛含量――樣品可以是粉末或液體。
HD 1000采用的是無損分析技術,對測試樣品不造成任何破壞。
**的簡易操作,儀器可以放在工廠地板上,成品庫中或試驗室里實用。
所有含鉛材料都可以有效測定:塑料、木材、金屬、紡織品、紙張、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析儀的每一個細節和特點均是為達到玩具和兒童用品業的要求而設計和優化的。
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