較薄可測試0.005um
較多可測試層數5層
原理X熒光光譜
檢測器類型SDD探測器
算法FP基本參數
探險者EXPLORER手持式X熒光分析儀是天瑞儀器結合10年手持XRF技術研發經驗,集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術,具有自主知識產權的全新一代手持XRF產品。
EXPLORER 5000T手持式XRF鍍層厚度分析儀是使用全新大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數字多道數據處理器的便攜式手持鍍層測厚分析儀。EXPLORER 5000T可對大面積鍍層產品進行膜厚分析,儀器不僅體積小、重量輕,可隨身攜帶進行測量;而且性能,堪比臺式機。
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