較薄可測試0.005um
較多可測試層數5層
原理X熒光光譜
檢測器類型SDD探測器
算法FP基本參數
鍍層測厚儀關鍵有以下功能優點:
1、測量速度快,具有單次和連續2種測量方式可選擇;
2、精度高 ,自動記憶校準值和自動識別被測基體的材質;
3、鍍層測厚儀穩定性高,操作測量時會有蜂鳴器提示音和連續測量時蜂鳴器不發聲提示;
4、功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法:覆層厚度的測量方法關鍵有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中**種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
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